Fundamentos de metrología dimensional.
Type de matériel :![Texte](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- Texto
- Sin medio
- Volumen
- 978-607-622-991-0
- QC88 M67 2018
Type de document | Site actuel | Collection | Cote | Statut | Date de retour prévue | Code à barres | Réservations | |
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Biblioteca Jorge Vértiz Campero, S.J. Colección General (Planta Baja) | General | QC88 M67 2018 (Parcourir l'étagère(Ouvrir ci-dessous)) | Disponible | UIALE093310 |
Bibliografía: páginas 295-297.
La Metrología ha experimentado en los últimos tiempos una enorme evolución, como no podía ser de otro modo. La competencia de costes, la premura de la puesto de nuevos productos en el mercado y los requisitos cada vez más exigentes por parte de los clientes en un mundo global, han producido y continuarán produciendo cambios. La Metrología continuará integrándose progresivamente en los procesos de fabricación y en los de diseño, siguiendo una trayectoria paralela y similar a la experimentada por los Sistemas de Gestión de Calidad. Este texto pretende ser una herramienta útil para quienes trabajen en este campo, ya sea desde una perspectiva académica o docente o bien en la práctica cotidiana de un centro productivo. Su objetivo es proporcionar conocimientos básicos sobre la organización y gestión metrológica, normativa y adquisición de los conceptos que constituyen los fundamentos de esta área de conocimientos, así como sobre los diferentes instrumentos y equipos que se utilizan tanto en los laboratorios de Metrología como en los centros de trabajo, abordando no solamente su manejo, sino también sus posibilidades y limitaciones. En suma, se trata de sentar unas bases sólidas que permitan no solo disponer de una perspectiva sobre la Metrología como disciplina, sino también posibilitar la comprensión y abordar el manejo de equipos metrológicos más específicos.
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